Bruker M4 TORNADO PLUS
用于超輕元素分析的微區XRF成像光譜儀
更多產品資料，聯系上海爾迪儀器科技有限公司
M4 TORNADO PLUS能夠檢測、分析從碳（C）到镅（Am）全元素的微區XRF成像光譜儀。作為久經驗證、市場的M4 TORNADO微區XRF分析儀系列的成員，M4 TORNADO PLUS還具備多項創新功能，例如：創新的孔徑管理系統、超高通量脈沖處理器以及靈活的快速更換樣品臺。
產品特點
·兩個大面積硅漂移探測器（SDD），配備超輕元素窗口
·高性能X射線管，增強低能量激發
·超高通量脈沖處理器
·zhuan利孔徑管理系統（AMS）
·快速更換樣品臺（可選多種樣品支架）
·第二X射線管，配備自動四位置準直器切換裝置（選配）
·可編程氦氣吹掃系統（選配）
產品優勢
·輕元素檢測下限至碳（C）
·提升輕元素檢測效率
·縮短采集時間，提升分析效率
·高景深設計，確保表面形貌復雜樣品成像時更多特征與細節清晰聚焦
·縮短樣品更換與系統準備時間
·高能譜線分析靈活性更高
·常壓環境下實現輕元素分析性能
儀器亮點
M4 TORNADO PLUS 通過采用配備超輕元素窗口的大面積硅漂移探測器（SDD）及超高通量脈沖處理器，實現了對碳（C）以上輕元素的高效檢測，并大幅提升了采集速度。其zhuan利孔徑管理系統（AMS）可提供景深性能，即使是表面形貌復雜的樣品也能實現精準分析。
得益于低能量范圍內顯著增強的靈敏度，鈉 （Na）至氯（Cl）元素的檢測性能大幅提升，與入門級微區XRF系統相比，典型計數率（cps）增幅高達20倍。
憑借這些性能突破，前沿研發領域可受益于高速微區XRF面掃描。
產品規格
樣品類型 | 固體、顆粒、液體 |
樣品室尺寸 | W x D x H: 600 mm x 350 mm x 260 mm |
樣品臺 | W x D: 330 mm x 170 mm, 最大載重： 7 kg |
測量氣體 | 空氣環境或可調真空（配備無油泵，約3分鐘可達2毫巴），可選氦氣吹掃系統 |
樣品行程 | 最大行程： W x D x H: 200 mm x 160 mm x 120 mm 掃描行程： W x D: 190 mm x 160 mm 移動速度：采用TurboSpeed樣品臺時最高可達100 mm/s |
樣品視圖 | 雙路實時俯視成像系統（不同放大倍率）實現樣品概覽與精確定位，側向魚眼鏡頭提供樣品室全景監控 |
激發 | 第一X射線管：高亮度、輕元素微焦斑X射線管，配備多導毛細管X射線光學系統和孔徑管理系統（AMS） 靶材：銠（Rh），可選銀（Ag） 管參數：50 kV，30 W 光斑尺寸：使用多導毛細管透鏡時，≤20μm (Mo Kα @17.5 keV) 濾光片：8種激發濾光片可選第二X射線管：細聚焦X射線管，配備四位置準直器切換裝置，準直器尺寸從0.5 mm到4.5 mm 靶材：鎢（W），可選銠（Rh）、鉬（Mo）、銅（Cu）、鉻（Cr） 管參數：50 kV，40 W 濾光片：8種激發濾光片 |
探測器 | XFlash®超輕元素硅漂移探測器，可檢測從碳（C）到镅（Am）的元素，支持雙探測器 。 敏感區域面積：2 x 60 mm2； 能量分辨率：< 145 eV（在輸入計數率為 600,000 cps 時）； 吞吐量：最高可達 550,000 cps 輸出計數率 |
儀器控制 | 先進的PC，Windows®操作系統 X射線管參數、濾光片、光學顯微鏡、樣品照明及樣品定位全面控制 |
光譜評估 | 峰識別、偽影與背景校正、峰面積計算、FP定量分析，使用 XMethod 進行基于標樣和無標樣的校準定量分析 |
分布分析 | “On the fy" 測量，HyperMap功能 |
結果呈現 | 定量分析結果，統計評估，元素分布（線掃描，面掃描） |
電源要求 | 100 - 240 V (1P), 50/60 Hz |
尺寸和重量 | W x D x H: 815 mm x 680 mm x 580 mm, 130 kg* |
質量與安全 | DIN EN ISO 9001:2015, CE 認證，UKCA 認證；全面輻射防護系統；輻射量 < 1 μSv/h |
QQ：3218790381
郵箱：3218790381@qq.com
地址：上海市閔行區中春路7001號e棟801室
掃一掃 微信咨詢
©2025 上海爾迪儀器科技有限公司 版權所有 備案號：滬ICP備19038429號-5 技術支持：化工儀器網 Sitemap.xml 總訪問量：160770 管理登陸
